Това отдолу е презентацията ми от април месец в Института по Механика – БАН. Озаглавена е: „Атомно силова микроскопия (АСМ): принцип на работа; възможности на микроскопа на Ambios; мои резултати.“ Съдържанието е следното:
1.Принцип на работа на АСМ. 2.Видове АСМ – топография, сили на триене, магнитни сили, електрически сили, еластичност. 3.Апаратурна реализация на АСМ. 4.Примери: 5 типа АСМ приложени към органични монослоеве от флуоресцентно маркиран фосфолипид. 5.Съвместно изследване на монослой с АСМ и FLIM (Fluorescence Lifetime Imaging Microscopy). 6.Изследване на 30 nm обвити феро частици. 7. Изследвания на полупроводникови образци.
Освен това за трейнинга ви моля предварително внимателно да прочетете 4та глава от ръководството за работа с Амбиос АФМ, озаглавена: Intermittent Contact Imaging. От тези 15 стр. не ви трябва всичко да знаете, а всички важни неща всеки ще ги направи сам стъпка по стъпка. Ако се затруднявате, мога да напиша едно кратичко ръководство какво се прави стъпка по стъпка. Не планирам да тренираме сега режима BB Wavemode накрая на главата. За да го разберете него трябва да прочетете нещо и от гл. 3. Другите режими на работа планирам да ги отработим при следващ трейнинг, когато оправим проблемите с електрическия шум на АФМа. Отдолу е линка към ръководството:
Написал съм допълнително ръководство как да се процедира при смяната на пружината, което ви пращам по мейлите. Освен това, видеокамерата се стартира от Софтуера за Наноиндентора, а с бутона на АФМ софтуера може само да се регулира интензивността на осветяване на образеца със светодиодите в главата. Грубото движението на острието и подложката се извършва също от софтуера на Наноиндентора.
